かえる計測株式会社｜製品｜ライセンス対象特許リスト

ライセンス対象特許リスト

【和歌山大学保有特許】
エイリアシングを利用した干渉縞又は投影格子の位相解析方法, 特許3870269(2006.10.27)
エイリアシングを利用した投影格子の位相解析方法, 特許3870275(2006.10.27)
単調増加波形投影による連続物体の形状計測装置と手法, 特許3855062(2006.9.22)
評価値を用いる縞画像計測データ合成方法, 特許3837565(2006.8.11)
デジタルホログラフィを利用した変位分布計測方法, 特許4069204(2008.1.25)
ラインセンサ及びライン状プロジェクタによる形状計測方法と装置, 特許3921547(2007.3.2)
モアレ縞を用いたずれ, パターンの回転, ゆがみ, 位置ずれ検出方法及び検出装置, 特許3937024(2007.4.6)
デジタルホログラフィを利用した変位分布計測方法及び装置, 特許4025879(2007.10.19)
球面波参照光を用いた位相シフトデジタルホログラフィの再生方法及び変位分布計測方法及び装置, 特許4025880(2007.10.19)
物体の再生像を得る装置, 位相シフトデジタルホログラフィ変位分布計測装置及びパラメータを同定する方法, 特許4025878(2007.10.19)
デジタルホログラフィを利用した変位分布計測方法及び物体像再生方法, 特許4038576(2007.11.16)
３次元変位ひずみ計測方法及び装置, 特許5130513(2012.11.16)
多数の基準面を用いた形状計測方法と形状計測装置, 特許4873485(2011.12.2)
物体の変位測定方法, 特許4831703(2011.9.30)
全空間テーブル化手法を適用した計測装置用のメモリボード、計測装置用の撮影装置、及び計測装置, 特許5557131(2014.6.13)
変位計測装置、方法およびプログラム, 特許5610514(2014.9.12)
形状計測装置および形状計測方法, 特許5818341(2015.10.9)
変位・ひずみ分布計測光学系と計測手法, 特許5825622(2015.10.23)
変位検出警報システム, 特許5901051(2016.3.18)
形状計測装置および形状計測法, 特許6486010(2019.3.1)
形状計測装置および形状計測方法, 特許6420159(2018.10.19)

【福井大学保有特許】
スペックル画像を用いる欠陥検出方法およびその装置, 特願2017-170670(2017.9.5 )
計測対象物の面外変位分布や３次元形状を計測する方法とその装置, 特願2019-009215(2019.1.23)
特徴量を用いた３次元計測方法及びその装置, 特許6308637(2018.3.23)
特徴量を用いた３次元計測方法及びその装置, US 11,257,232
特徴量を用いた３次元計測方法及びその装置, DE 11 2018 002 357.5(2019.11.7)
特徴量を用いた３次元計測方法及びその装置, GB 2577013(2022.5.4)
集光する特性を持つ光学素子を複数個配置した集光手段を備えた格子投影装置及び前記格子投影装置を用いた計測装置, 特願2021-030796(2021.2.26)
光切断法による位相解析を用いた変位計測方法とその装置, 特許7045116(2022.3.23)

【弊社代表保有特許】
複数の格子を用いた三次元形状計測装置, 特許6035031(2016.11.4)
三次元変位計測方法とその装置, 特許6072425(2017.1.13)
物体に取り付けた格子の画像から物体の物理量を測定する方法, 特許5466325(2014.1.31)
デジタルホログラフィによる変位・ひずみ分布計測装置, 特許5819901(2015.10.9)
重み付けを用いた格子画像の位相解析方法, 特許5795095(2015.8.21)
形状計測装置および形状計測方法, 特許5854540(2015.12.18)
三次元形状測定装置, 特許6527725(2019.5.17)
形状計測装置および形状計測方法, 特許5854544(2015.12.18)
曲面を基準面とする三次元形状計測方法, 特許6666670(2020.2.26)
特徴量を用いた３次元計測方法及びその装置, 【中国】ZL201880030908.3(2021.7.16)
３次元計測対象物体の表面に計測結果関連情報を投影する方法および装置, 特許7088530(2022.6.13)